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產品型號：iSpec-XSR400
更新時間：2024-12-31簡要描述：微納器件光譜響應度測試系統是一款專用于低維材料光電測試的系統。其功能全面，提供多種重要參數測試。系統集成高精度光譜掃描，光電流掃描以及光響應速率測試。
微納器件光譜響應度測試系統
型號：iSpec-XSR400
iSpec-XSR400系列是一款專用于低維材料光電測試的系統。其功能全面，提供多種重要參數測試。系統集成高精度光譜掃描，光電流掃描以及光響應速率測試。40μm探測光斑，實現百微米級探測器的絕對光譜響應度測量。超高穩定性光源支持長時間的連續測試，豐富的光源選擇以及多層光學光路設計可擴展多路光源，例如超連續白光激光器，皮秒脈沖激光器，半導體激光器，鹵素燈，氙燈等，滿足不同探測器測試功能的要求。是微納器件研究的優選。
產品特點及優勢：
l 光源可選氙燈光源、超連續白光光源、連續激光器、皮秒脈沖激光器
l 制冷樣品臺溫度范圍-196℃-600℃（-196攝氏度需要選擇專用冷卻系統）
l 示波器采樣率可達5GS/S，記錄長度10M
l 可以引入可調單色光源，進行全光譜范圍的光譜響應度測試
產品應用：
l 光譜響應度
l 外量子效率
l 單色光/變功率IV
l 不同輻照度IT曲線（分辨率200ms）
l 不同偏壓下的IT曲線
l LBIC，Mapping
l 線性度測試
l 響應速率測試
微納器件光譜響應度測試系統主要技術指標：
低維材料（如石墨烯、碳納米管、二氧化鎢、過渡金屬硫化物等）因其光電特性而受到廣泛關注。這些材料的光電測試是為了評估它們在電子器件、光電子器件和存儲器等方面的應用潛力。
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